产品简介

HAST 高加速老化试验箱（不饱和高压蒸煮箱）腔内营造无冷凝不饱和高温高压高湿环境，可对电子元器件施加工作偏压，多重应力叠加大幅加速电化学腐蚀、绝缘漏电、封装受潮失效，测试效率远高于常规 85℃/85% RH 恒温恒湿试验。设备严格遵循 JEDEC、国标、IEC、国军标等行业规范，是半导体封装、汽车电子、军工元器件可靠性验证核心设备。

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